X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、冶金樣品的常規分析。XRF作為一種無損檢測技術，可以直接應用于現場、原位分析，在材料分析領域占有重要地位。

XRF9能量色散X射線熒光分析儀正是基于X射線熒光分析技術設計的一款新型X射線熒光光譜分析儀。可實現對樣品中所含元素快速，無損，準確的定性、定量分析。采用XRF9分析儀進行成分辨別無需復雜的化學前處理，是最快速，經濟的方法。

1.樣品無損檢測：固體樣品可直接檢測，無需化學前處理。
2.分析速度快：測試時間小于300S
3.多元素同時分析.
4.儀器采用先進的多光束可調節系統：為各元素測試提供最佳條件
5.儀器采用自動調節雙層六通道濾光系統：保證各元素得到最佳測試效果
6.高分辨率探測器：無需液氮冷卻，運行成本低
7.XYZ三維運動樣品臺：樣品運動自動控制，測試點自由選取。
8.CCD攝像及樣品自動定位系統：各方位監測樣品，測試部位圖像直接顯示在樣品測試報告。
9.軟件系統：功能強大，操作容易。
10.完善的輻射安全防護

儀器系統組成及規格
1.高壓電源：最高50Kv/1mA
2.X射線管：Ag靶（W、Mo、Rh靶可選）
3.濾光片：六通道
4.探測器：Si-PIN電子冷卻
5.信號處理系統：PX-1
6.數據處理系統：XRF9軟件
7.防護機柜：電機連鎖防護